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고분해능 X선 회절 분석기
SmartLabX-ray 를 시료에 조사하여 나온 회절 패턴을 검출하고 특정 Peak를 분석하여 물질의 결정 상태를 알 수 있다. - 결정구조 및 결정립크기, 물질 상 분석(정성분석) 및 정량분석 - XRD profile 분석을 통해 crystallite size 및 crystallinity 분석 - XRR(X-Ray Reflectivity)를 이용한 박막의 밀도 , 두께 , 거칠기 분석
| 일련번호 | 5014 |
|---|---|
| 장비명 영문 | High-Resolution X-Ray Diffraction |
| 약칭 | 국제캠퍼스_HR-XRD |
| 제작사 | Rigaku |
| 모델명 | SmartLab |
| 도입년도 | 2011년 11월 17일 |
| 시설장비등록번호 | NFEC-2025-06-306591(ZEUS) |
| 보유기관 | 연세대학교 산학협력단 |
| 표준분류 | 화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선회절분석기 |
| 활동범위 | 공동활용 |
| 활용대상 | 기관외부활용,기관내부활용 |
| 예약방법 | 기관홈페이지,유선문의 |
장비 상세정보
주료 구성 및 기능
- 3kW 고출력 엑스선 발생장치
- 시료 수평형 고분해능 대반경 고니오미터
- HR-XRD(Rocking curve, RSM)분석을 통한 미량분석 및 극박막, 유기박막 시료 분석
- XRR 박막 두께 분석
이용안내
직접사용,시험의뢰
이용안내
- 시료성상고체(파우더,필름)
- 필요 시료양/두께1x1 cm
적용불가시료
액체시료 불가
활용사례
본 XRD 장비를 통해 X-선 회절 패턴을 분석함에 따라 약품이나 반도체, 배터리 연구 물질등의 정성 및 정량적 분석을 할 수 있다. 나아가 고분해능 분석을 통해 단결정, 애피택셜 박막 등의 미세한 격자 상수 변화 및 구조적 결함을 분석 할 수 있다.
이용료 안내
- 이용단가직접 사용 : 20,000원/30분(교내), 30,000원/30분(교외), 30,000원/30분(업체)
기관/담당자 정보
- 보유기관명연세대학교 산학협력단
- 주소인천광역시 연수구 송도과학로 85 자유관B 309호 F2층 216호
- 담당자 연락처김선태 / 02-2123-6972
장비 위치안내
설치장소인천광역시 연수구 송도과학로 85 자유관B 309호 F2층 216호
문의전화02-2123-6972
활용 및 연구분야
반도체, 배터리, 제약, 금속, 화학등 소재 연구
사용 시 주의사항
직접사용 시 직접사용자 교육 이수 필수
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