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광학ㆍ전자 영상장비

투과전자현미경

CM200

고전압으로 가속된 전자빔이 시료를 투과하며 그에 따라 형성되는 상과 회절상을 통하여 시편 내부의 미세구조 및 결정구조, 화학적 성분등의 정보를 얻는 장치이다.

장비 정보
일련번호	0005
장비명 영문	Transmission Electron Microscope
약칭	TEM
제작사	PHILIPS
모델명	CM200
도입년도	1997년 04월 29일
시설장비등록번호	NFEC-2008-04-051794
보유기관	인하대학교 표준분석연구원
표준분류	광학 >현미경 > 투과전자현미경
활동범위	공동활용
활용대상	기관외부활용,기관내부활용
예약방법	기관홈페이지,유선문의

예약 바로가기

장비 상세정보

주료 구성 및 기능

● 주요사양

1. 가속전압 : 80, 120, 200kV
2. 전자총 : LaB6
3. 분해능 : Point - 0.244nm, Line - 0.144nm / STEM - 1nm
4. 배율 : 25-110 만배 / STEM 100-48 만배
5.시편경사각 : A (±40°) B(±20°)
6. 카메라길이 : 60-4.700mm
- 가속전압 : 200kV
- 전자총 : LaB6
- 분해능 : Point - 0.244nm, Line - 0.144nm / STEM - 1nm
- 배율 : 25-110 만배 / STEM 100-48 만배
- 시편경사각 : A (±40°) B(±20°)
- 카메라길이 : 60-4.700mm

이용안내

직접사용,시험의뢰

이용안내

시료성상100nm이하의 두께를 가지는 고체 샘플
필요 시료양/두께유선문의(032-860-8664)
전처리 안내유선문의(032-860-8664)

적용불가시료

액상시료, 100nm 이하의 두께로 전처리가 되지 않은 벌크시료

활용사례

금속, 세라믹, 고분자, 반도체, 생체 등 각종재료의 미세구조와 결합구조를 고배율로 확대하여 형상 관찰
각종 재료의 나노미터 스케일 부분에 대한 전자회절분석을 통하여 결정구조, 대칭요소, 결정학적 영향, 결정배향성을 분석

이용료 안내

이용단가120,000원/시간
추가비용TEM 시편 제작시 상담 후 제작
직접문의032-260-8664

기관/담당자 정보

보유기관명인하대학교 표준분석연구원
주소인천광역시 미추홀구 인하로 100 인하대학교 60주년기념관 034호 인하대학교 60주년-041
담당자 연락처황선재 / 032-260-8664

장비 위치안내

설치장소인천광역시 미추홀구 인하로 100 인하대학교 60주년기념관 034호 인하대학교 60주년-041

문의전화032-260-8664

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활용 및 연구분야

금속, 세라믹, 고분자, 생체 재료를 이용한 반도체, 배터리, 바이오, 환경, 의약, 식품, 화장품 등 연구에 활용

사용 시 주의사항

직접사용 시 담당자 직접 사용유무 검증 후 사용 가능 하며, 문제 발생 시 표준분석연구원 내규에 따름

BIOMAP

연구장비