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주사탐침현미경
MULTIMODE-8-AM시료의 표면 형상 츨정(topography)을 포함하여 탄성, 마찰, 응착과 자기적인 분야의 표면 특징을 측정하는 모든 범위의 주사탐침현미경의 기술을 실행하여 반도체, 재질, 전자, 생물, 기체와 액체 환경에서의 샘플 화학 문석용으로 사용 가능하다.
| 일련번호 | 1009 |
|---|---|
| 장비명 영문 | Atomic Force Microscope |
| 약칭 | AFM |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | MULTIMODE-8-AM |
| 도입년도 | - |
| 시설장비등록번호 | - |
| 보유기관 | 인천대학교 공동기기원 |
| 표준분류 | - |
| 활동범위 | 공동활용 |
| 활용대상 | 기관외부활용,기관내부활용 |
| 예약방법 | 기관홈페이지,유선문의 |
장비 상세정보
주료 구성 및 기능
Resolution
1) Noise level RMS : <0.3 Å(open loop in appropriate environment)
2) Vertical resolution : 0.1 Å
3 )Lateral resolution : 1 Å
이용안내
시험의뢰
이용안내
- 시료성상고체
- 필요 시료양/두께1x1cm 이하
- 전처리 안내직접문의
적용불가시료
액체
활용사례
나노기술, 재료, 반도체, 생명과학, 의약, 화학, 식품, 환경, 화장품, 촉매
이용료 안내
- 이용단가기본 20,000원/30분
- 추가비용의뢰자가 AFM Tip를 제공해주셔야함
기관/담당자 정보
- 보유기관명인천대학교 공동기기원
- 주소인천광역시 연수구 아카데미로 119 (송도동 12-1) 인천대학교 송도캠퍼스 9호관 223호
- 담당자 연락처032-835-4219
장비 위치안내
설치장소인천광역시 연수구 아카데미로 119 (송도동 12-1) 인천대학교 송도캠퍼스 9호관 223호
문의전화032-835-4219
활용 및 연구분야
나노기술, 재료, 반도체, 생명과학, 의약, 화학, 식품, 환경, 화장품, 촉매
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