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광학ㆍ전자 영상장비

진공 FT-IR & FT-IR현미경(분석의뢰)

VERTEX 80V, HYPERION 2000

FT-IR 은 물질의 구조동정과 다중결합, 작용기, cis-trans 이성체, 환의 치환위치, 수소결합 및 chelation 등의 구조의 특징을 알수 있으며 상대적 정량분석에도 이용된다. 또한 현미경(HYPERION 2000)을 통해 시료의 Chemical imaging 및 Mapping 정보를 알 수 있고, Material science, Forensics, Mineralogy, Failure analysis, Content uniformity 분야의 시료들에 Homogeneity 및 Quality control을 실행가능하다.

장비 정보
일련번호	1008
장비명 영문	Vacuum FT-IR & FT-IR Microscope
약칭	FT-IR
제작사	Bruker
모델명	VERTEX 80V, HYPERION 2000
도입년도	-
시설장비등록번호	-
보유기관	인천대학교 공동기기원
표준분류	-
활동범위	공동활용
활용대상	기관외부활용,기관내부활용
예약방법	기관홈페이지,유선문의

예약 바로가기

장비 상세정보

주료 구성 및 기능

● 규격

▶ Model : Bruker model VERTEX 80V

▶ Specification
1. range : 8,000 - 800㎝-1
2. Resolution : High-resolution scanner option for 0.06㎝-1
resolution(Apodized function)
3. Wavenumber accuracy : Better than 0.01㎝-1
4. Photometric accuracy : 0.1% T

▶ Model : Bruker Microscope model HYPERION 2000

▶ Specification

1. 15 magnification objective
2. Binoculars with adjustable eyepieces
3. IR and visible illumination optics for transmittance
4. High power visible illumination (100W)
5. Video Camera Port

이용안내

시험의뢰

이용안내

시료성상고체, 분말, 액체
필요 시료양/두께지름 약 1~2mm 크기
전처리 안내직접문의

활용사례

화학결합·분자 구조 분석

이용료 안내

이용단가기본 20,000원/30분, ATR/Reflection 25,000원/30분

기관/담당자 정보

보유기관명인천대학교 공동기기원
주소인천광역시 연수구 아카데미로 119 (송도동 12-1) 인천대학교 송도캠퍼스 9호관 213호
담당자 연락처032-835-4219

장비 위치안내

설치장소인천광역시 연수구 아카데미로 119 (송도동 12-1) 인천대학교 송도캠퍼스 9호관 213호

문의전화032-835-4219

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활용 및 연구분야

화학, 고분자, 의약, 식품, 환경, 재료, 생명과학, 화장품, 에너지, 나노소재

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