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X-선회절분석기 (박막전용)
X'Pert-PRO MRD시료에 X선을 조사하면 시료 내 원자에 의해 산란된 X선이 서로 간섭하여 특정방향에서 강한 회절 X선이 생기게 된다. 이때 얻은 X선 회절무늬는 물질마다 다른 고유값으로써 시료의 정성 및 정량분석에 이용된다.
| 일련번호 | 0002 |
|---|---|
| 장비명 영문 | X-ray Diffractometer(for thin-film) |
| 약칭 | XRD |
| 제작사 | Malvern Panalytical |
| 모델명 | X'Pert-PRO MRD |
| 도입년도 | 2006년 02월 23일 |
| 시설장비등록번호 | NFEC-2008-04-051824 |
| 보유기관 | 인하대학교 표준분석연구원 |
| 표준분류 | 분석장비 > 분광분석장비 > X-선회절분석기 |
| 활동범위 | 공동활용 |
| 활용대상 | 기관외부활용,기관내부활용,불용 |
| 예약방법 | 기관홈페이지,유선문의 |
장비 상세정보
주료 구성 및 기능
● 주요사양
- X-ray power : 40kV 30mA
- Target : Cu
- Scan range : 5deg ~ 140deg
이용안내
시험의뢰
이용안내
- 시료성상벌크, 박막
- 필요 시료양/두께유선문의(032-860-8671)
- 전처리 안내유선문의(032-860-8671)
적용불가시료
분말, 측정면이 평평하지 않은 시료 등
활용사례
물질의 결정성 유무확인, 결정구조 및 정성분석 등
이용료 안내
- 이용단가30,000원/샘플(Theta-2theta scan, Grazing Incidence scan 기준)
기관/담당자 정보
- 보유기관명인하대학교 표준분석연구원
- 주소인천광역시 미추홀구 인하로 100 인하대학교 60주년-003
- 담당자 연락처김태현 / 032-860-8671
장비 위치안내
설치장소인천광역시 미추홀구 인하로 100 인하대학교 60주년-003
문의전화032-860-8671
활용 및 연구분야
신소재, 화학, 고분자, 제약 등 물질의 결정성 여부 및 배향 확인과 결정질 물질의 구조, 결정화도, 결정립크기, 격자상수, 정성분석 등에 활용
사용 시 주의사항
발화위험 및 인체 위험요소가 있는 시료에 대한 측정은 사전에 담당자 협의 후 진행
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