Home
/
광학ㆍ전자 영상장비
예약 바로가기
전계방사형 투과전자 현미경
JEM-2100F고전압으로 가속된 짧은 파장의 전자선을 시편에 투과 시킨 후 투과전자, 회절전자, X-선 등을 이용하여 미소 영역의 상과 결정구조 및 화학적 성분을 분석하는 기기.
| 일련번호 | 0006 |
|---|---|
| 장비명 영문 | FE-TEM |
| 약칭 | FE-TEM |
| 제작사 | ㈜ 제올 |
| 모델명 | JEM-2100F |
| 도입년도 | 2006년 02월 23일 |
| 시설장비등록번호 | - |
| 보유기관 | 인하대학교 표준분석연구원 |
| 표준분류 | 광학 > 현미경 > 투과전자현미경 |
| 활동범위 | 공동활용 |
| 활용대상 | 기관외부활용,기관내부활용 |
| 예약방법 | 기관홈페이지,유선문의 |
장비 상세정보
주료 구성 및 기능
금속, 세라믹, 고분자 생물 시료의 미세구조 및 성분분석
이용안내
직접사용,시험의뢰
적용불가시료
액상시료
활용사례
화장품 원료의 SiO2 크기, 형태, 성분, 구조 등을 확인하여 개발의 진행상태를 확인
이용료 안내
- 이용단가160,000원/시간
- 추가비용EDS: point 10,000원/ MAP LINE 40,000원
기관/담당자 정보
- 보유기관명인하대학교 표준분석연구원
- 주소인천광역시 미추홀구 인하로 100 인하대학교 60주년기념관 034호 인하대학교 60주년-043
- 담당자 연락처조명수 / 032-860-8669
장비 위치안내
설치장소인천광역시 미추홀구 인하로 100 인하대학교 60주년기념관 034호 인하대학교 60주년-043
문의전화032-860-8669
활용 및 연구분야
미세조직분야
사용 시 주의사항
직접사용 시 연구실 안전교육(www.lab.go.kr 사이트 등) 이수증 제출 필수, 간단 사용자 교육 시 별도 비용 발생
장비를 평가해주세요!
-
장비(제원, 상태 등)에 대해 만족하십니까?
-
서비스(대응, 결과 등)에 대해 만족하십니까?
-
종합적인 이용에 대해 만족하십니까?